PF6原子熒光光度計受空白熒光的影響分析

　　PF6原子熒光光度計屬于普析的中產品系列，采用氣源式順序流動注射、免調燈、卷流式氣液分離器、雙光束等普析原創性技術，繼承改良了石英原子化器、非色散短焦距光路等傳統原子熒光制造技術。

　　

　　光度計是通過測量待測元素的原子蒸氣在輻射能激發下產生的熒光發射強度，來確定待測元素含量的方法。氣態自由原子吸收特征波長輻射后，原子的外層電子從基態或低能級躍遷到高能級經過約10-8s，又躍遷至基態或低能級，同時發射出與原激發波長相同或不同的輻射，稱為原子熒光。

　　

　　PF6原子熒光光度計很容易受到各種因素的影響與干擾，其中表現較多的為空白熒光強度過高且不穩定。下面我們就來看看吧！

　　

　　故障表現為測定某種元素前，試劑空白測試時，經常出現熒光強度在1000～8000范圍內大幅度波動的現象，甚至導致超出儀器的測量范圍而提示信號溢出。

　　

　　在排除儀器流路和容器污染以及實驗用水因素后，配制不同濃度的酸溶液上機試驗，如果熒光強度值隨酸度降低而成比例減小，即可確定上述故障現象由介質所導致。

　　

　　此故障在更換合格介質后儀器多能自動恢復正常。

　　

　　由此建議，PF6原子熒光光度計在整個實驗過程使用的酸為優級純，為達到滿意的實驗結果，應簡化實驗步驟。

　　

　　若實驗方法允許，可將樣品處理、標準系列配制和載流所用介質保持一致，以便將介質影響降到小。